Computer Vision
[Paper] 합성곱 신경망을 이용한 웨이퍼 맵 기반 불량 탐지
새로운 프로젝트로 웨이퍼 맵 데이터를 활용한 이미지 분류와 관련된 연구를 진행하게 되었다. 이와 관련된 선행 연구를 찾아보던 중, 이 논문을 발견하게 되었고 프로젝트를 진행하는 데 있어 많은 도움이 될 것 같아 리뷰를 진행했다. 이 연구는 국내 반도체 기업에서 확보한 웨이퍼 맵 데이터를 통해 전처리 과정을 거쳐 이미지 분류 모델을 활용해 불량과 정상을 판단했다. 논문 : 합성곱 신경망을 이용한 웨이퍼 맵 기반 불량 탐지 0. 초록 이미지 분류에서 좋은 성능을 보여주는 합성곱 신경망을 웨이퍼 맵 이미지 데이터의 불량 여부를 판단하는 분류 모델로 사용 실제 제안하는 모델이 실제 반도체 공정에서 수집된 데이터를 활용한 실험을 통해 기본적인 다층 퍼셉트론과 랜덤 포레스트보다 더 나은 예측 정확도를 가지고 있음을..
